Tích hợp phép đo bề mặt 3D quang học vào sản xuất

Đo lường nội tuyến được sử dụng để kiểm soát chất lượng 100%, đồng thời cho phép phản hồi trực tiếp để kiểm soát quy trình. Với TopMap, Polytec đã thiết lập phép đo bề mặt quang học 3D, giúp kiểm soát chất lượng nhanh chóng và đáng tin cậy về chất lượng bề mặt, đặc biệt là trong kỹ thuật cơ khí và gia công.

TopMap không phải là công cụ kiểm tra trực quan đơn giản mà đo toàn bộ bề mặt ở chế độ 3D với độ phân giải cao. Không giống như các hệ thống kiểm tra hoàn toàn dựa trên camera, công nghệ đo lường 3D cũng thu thập dữ liệu chiều cao, điều cần thiết để phát hiện các khuyết tật. Dựa trên phép đo giao thoa ánh sáng trắng, địa hình 3D của toàn bộ bề mặt được ghi lại trực tiếp, trái ngược với biểu diễn 2D dựa trên cấu hình của các kỹ thuật bút stylus thông thường.

Phép đo bề mặt TopMap cho phép đánh giá chi tiết và nhanh chóng các tham số dạng bề mặt như độ phẳng hoặc chiều cao bậc không tiếp xúc và ngoài ra còn có đặc tính của độ nhám và chi tiết kết cấu. Do tốc độ đo cao và đặc tính toàn diện của bề mặt, phương pháp đo này phù hợp cho các quy trình sản xuất có năng suất cao và thời gian chu kỳ ngắn.

Polytec tiến thêm một bước với công nghệ đo lường quang học: Cảm biến và đầu đo có thể được tích hợp vào dây chuyền sản xuất để vận hành bán tự động và hoàn toàn tự động. Các giải pháp phần mềm TopMap cho phép xác định trước các tác vụ đo lường thông thường, sửa đổi hoặc lưu chúng, do đó, người vận hành ở cấp độ sản xuất chỉ cần gọi chương trình tương ứng cho từng thành phần để kiểm tra đơn giản hóa và tăng tốc, giúp ngăn ngừa lỗi của người vận hành. Cho dù tính năng nhận dạng mẫu tự động hay khả năng đo nhiều mẫu trong một lần chụp, các tùy chọn và cấu hình đặc biệt cho phép đo bề mặt 3D TopMap giúp hoạt động trở nên đơn giản.

Để biết thêm thông tin: www.polytec.com

Tags: , , , , , , , ,